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陽(yáng)光模擬試驗(yàn)箱(多燈)產(chǎn)品特點(diǎn)： ?高品質(zhì)光源 ?光譜等級(jí)B B A 滿足汽車、光伏、軍工等行業(yè)，則試需求 ?采用特殊工藝處理的防凝霓濾光系統(tǒng) ?采用觸摸屏操作，實(shí)現(xiàn)定值／程式運(yùn)行功能，溫濕度記錄及報(bào)警 ?可靠的輻照度測(cè)量系統(tǒng)，可持續(xù)接入系統(tǒng)使用 ?T U V 、U L 、CSA 、SGS 、B V 等實(shí)驗(yàn)室推薦品 牌，可快 速方便地為用戶提供準(zhǔn)確、可重復(fù)、可再現(xiàn)的陽(yáng)光模擬試驗(yàn)過(guò)程

熱循環(huán)環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備簡(jiǎn)介：環(huán)境試驗(yàn)箱用于針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

濕熱環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備簡(jiǎn)介：產(chǎn)品滿足MIL,STD,GB,GJB,JIS,JEDEC,IEC等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，支持80~1000L標(biāo)準(zhǔn)容積選型和其它型號(hào)非標(biāo)定制，可模擬環(huán)境進(jìn)行高低溫，高低溫循環(huán)，濕熱交變，恒溫恒濕，高溫高濕，低溫低濕等可靠性測(cè)試。

高低溫濕凍環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備簡(jiǎn)介：高溫老化房是針對(duì)于高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備，是各大生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程

HAST高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱，用于車規(guī)級(jí)芯片，IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測(cè)試其制品的密封性和老化性能。

PCT高壓蒸煮老化箱用于耐濕性評(píng)估和強(qiáng)健性測(cè)試。目的在于用壓縮濕氣和飽和濕氣環(huán)境下，評(píng)估非氣密性封裝固態(tài)元件的抗?jié)裥?。在高壓、高濕條件下加速濕氣滲透（塑封料、芯片鈍化層）或設(shè)計(jì)變更（芯片、觸電尺寸）與金屬導(dǎo)電層間界面的滲透，從而識(shí)別封裝內(nèi)部的失效機(jī)制。

氙燈老化試驗(yàn)箱，采用了直流長(zhǎng)弧氙燈作為光源，模擬并強(qiáng)化到達(dá)地面的日光光譜，并通過(guò)適當(dāng)控制溫度、濕度和噴水等條件，用于對(duì)塑料、涂料、橡膠、木板材料不同種類或同種類不同配方材料的耐濕熱戶外氣候性能比較，也可用于對(duì)已知耐候性材料進(jìn)行質(zhì)量等級(jí)評(píng)定試驗(yàn)。

高溫烤箱適用于各類電子電工、電子元器件、半導(dǎo)體IC、家用電器、塑料塑料、航空航天、LED、LCD、照明、光電通訊、汽車零部件、電線電纜、金屬五金、化工涂料、建材等行業(yè)對(duì)非易燃、非易爆物品進(jìn)行老化、干燥、烘培及熱處理試驗(yàn)。